作為 Instron 推出的高級(jí)引伸計(jì)解決方案，AVE3 非接觸式高級(jí)視頻引伸計(jì)擁有強(qiáng)大的多功能性，可為拉伸、壓縮和彎曲測(cè)試提供精確的應(yīng)變測(cè)量。其具有強(qiáng)大的靈活性，適用于從小標(biāo)距到大標(biāo)距、從低延伸率到高延伸率、板材或圓棒試樣以及薄膜等敏感材料的各種測(cè)試場(chǎng)景，而無(wú)需購(gòu)買(mǎi)、保養(yǎng)多個(gè)接觸式引伸計(jì)。AVE3 同樣適用于環(huán)境箱或水浴槽此類(lèi)非環(huán)境條件下的應(yīng)用。作為一種非接觸式測(cè)量解決方案，AVE3 無(wú)需在測(cè)試前進(jìn)行繁瑣的裝夾步驟，即使在測(cè)試復(fù)合材料發(fā)生爆炸性失效時(shí)，也能夠在不損傷引伸計(jì)的條件下跟蹤應(yīng)變至斷裂。AVE3 符合 ISO 9513 和 ASTM E83 的標(biāo)準(zhǔn)精度要求，并具有 500 Hz 的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)傳輸速率，使您能夠依照嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試。

在任何環(huán)境下都堅(jiān)固耐用

消除環(huán)境影響
您是否知道實(shí)驗(yàn)室的環(huán)境條件會(huì)造成氣流干擾，從而對(duì)您的測(cè)試數(shù)據(jù)產(chǎn)生負(fù)面影響? Instron 的光學(xué)專(zhuān)家確定了會(huì)對(duì)應(yīng)變信號(hào)產(chǎn)生噪聲的區(qū)域，重新設(shè)計(jì)了 AVE3，使其無(wú)需進(jìn)行大量濾波即可生成一致的應(yīng)變數(shù)據(jù)。AVE3 采用正在申請(qǐng)zhuan利的恒密度空氣管道 (CDAT) 技術(shù)，可減輕溫度和環(huán)境因素對(duì)應(yīng)變數(shù)據(jù)的影響。該技術(shù)可屏蔽環(huán)境引起的噪聲，從而提高應(yīng)變信號(hào)的實(shí)時(shí)精度，讓您能夠在應(yīng)變速率控制下進(jìn)行測(cè)試。

降低應(yīng)變變異性
接觸式引伸計(jì)雖然能夠提供精確的應(yīng)變測(cè)量，但由于操作人員的變化、刀口在試樣上的滑移或試樣在刀口夾持處過(guò)早斷裂，可能會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生不利影響。使用接觸式引伸計(jì)時(shí)，還需考慮活動(dòng)部件的磨損。同時(shí)，為避免對(duì)引伸計(jì)造成損壞，應(yīng)當(dāng)在試樣斷裂前移除引伸計(jì)。

作為一種非接觸式測(cè)量解決方案，AVE3 能夠消除操作人員對(duì)應(yīng)變結(jié)果的影響，為所有實(shí)驗(yàn)室提供更加一致、可靠的應(yīng)變測(cè)量數(shù)據(jù)。

應(yīng)用范圍
• 適用于幾乎所有材料，包括塑料、金屬、復(fù)合材料、紡織品、薄膜、彈性體、紙張、部件和生物材料
• 加載類(lèi)型：拉伸，壓縮和彎曲測(cè)試

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
AVE3 符合嚴(yán)格的國(guó)際測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，例如：

金屬測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
• ISO 6892, ASTM E8, JIS Z 2241, GB 228.1
          - 應(yīng)變速率控制：0.00025/s GLs ≥ 25mm
• r 值 (推薦使用 AverEdge32™): ISO 10113, ASTM E517, JIS 2254, GB/T 5027

塑料測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
• ISO 572-2, ASTM D638, JIS K 7161-2, GB/T 1040.2
• 彎曲測(cè)試：ISO 178, JIS K 7171, GB/T 9341

復(fù)合材料測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
• ISO 527-4/5, ASTM D3039, GB/T 3354

彈性體測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
• ISO 37, ASTM D412, JIS K 6251, GB/T 528

薄膜和箔材測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
• ASTM E354, ASTM D882, GB/T 1040.3

標(biāo)準(zhǔn)功能

正在申請(qǐng)zhuan利的恒密度空氣管道 (CDAT) 技術(shù)可保護(hù)您的測(cè)試數(shù)據(jù)。

自適應(yīng)照明技術(shù)獨(dú)立于實(shí)驗(yàn)室照明，能夠消除環(huán)境對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的影響。

增強(qiáng)控制功能能夠控制風(fēng)扇的運(yùn)行狀態(tài)，確保僅在測(cè)試進(jìn)行時(shí)運(yùn)行。

能夠適配您實(shí)驗(yàn)室中幾乎所有的 Instron 試驗(yàn)系統(tǒng)。

能夠輕松安裝在機(jī)架上，并可快速地從機(jī)架轉(zhuǎn)移至環(huán)境箱上。

全部集成至 Bluehill^® Universal 測(cè)試軟件中。

板載測(cè)量技術(shù)可實(shí)時(shí)處理數(shù)據(jù) (數(shù)據(jù)傳輸速率可達(dá) 500 Hz)，能夠滿足應(yīng)變控制要求。

可選配的高級(jí)功能
AverEdge32^TM
對(duì)于需要測(cè)量金屬板材 r 值的用戶，可選擇 AVE3 的 AverEdge32 功能。該功能通過(guò)對(duì)軸向標(biāo)距實(shí)施 32 等分，實(shí)時(shí)計(jì)算每個(gè)等分點(diǎn)的測(cè)試結(jié)果并取均值，以獲得最佳的橫向應(yīng)變精度。適用于符合 ISO 10113 和 ASTM E517 標(biāo)準(zhǔn)的金屬板材測(cè)試。

數(shù)字圖像相關(guān)軟件
AVE3 還可通過(guò)選配數(shù)字圖像相關(guān) (DIC) 軟件來(lái)記錄您的測(cè)試圖像，以獲得與您的 Bluehill^® Universal 測(cè)試數(shù)據(jù)同步的全場(chǎng)應(yīng)變分布圖。

鏡頭選擇

35 mm - 短視野焦距
適用于復(fù)合材料、金屬和剛性材料等低應(yīng)變材料

16 mm - 標(biāo)準(zhǔn)視野焦距
適用于塑料、金屬、金屬板材和箔材等材料。對(duì)于需要控制應(yīng)變率和測(cè)量平均橫向應(yīng)變 (AverEdge32^TM) 的金屬客戶，是其優(yōu)選鏡頭。

6 mm (超長(zhǎng)視野焦距) 和 9 mm (長(zhǎng)視野焦距)
適用于橡膠、彈性體、薄膜和部分塑料材料等延伸率較高的材料。

** 選擇鏡頭時(shí)，請(qǐng)確保您了解最小和最大標(biāo)距長(zhǎng)度要求，以及您計(jì)劃測(cè)試的試樣范圍的總延伸量。

磁吸安裝底座

AVE3 可根據(jù)您的測(cè)試需求快速更換鏡頭，以適應(yīng)各種標(biāo)距長(zhǎng)度和延伸率。憑借全新的磁吸安裝底座，鏡頭可自動(dòng)卡入經(jīng)工廠標(biāo)定的位置使設(shè)置具有一致性，以此確保每次數(shù)據(jù)采集據(jù)的準(zhǔn)確性。

規(guī)格

軸向測(cè)量

橫向測(cè)量（選配）³

標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)

硬件和軟件要求
AVE3 非接觸式高級(jí)視頻引伸計(jì)與試驗(yàn)系統(tǒng)軟件在同一臺(tái) PC 上運(yùn)行。PC 的基礎(chǔ)配置為： Intel i3 @ 3.0GHz, 至少 16 GB RAM, Windows^® 10 (64 位) Build 1607 或更高版本（家庭版除外）。Windows^® 11 (64 位)， 家庭版除外。

*以較大者為準(zhǔn)
注:
1. 334X, 34SC, 336X, 34TM, 594X, 68SC，以及標(biāo)準(zhǔn)寬度的 596X 和 68TM
2. 標(biāo)準(zhǔn)寬度的 3382, 34FM, 5982, 5984, 5985, 以及68FM
3. 3300 系列試驗(yàn)系統(tǒng)暫不提供橫向測(cè)量選項(xiàng)